Analisis Sifat-sifat Optoelektronik Lapisan Tipis Silikon Amorf terhidrogenasi yang ditumbuhkan dengan Teknik VHF-PECVD pada Variasi Daya RF

Abstrak: Telah  dideposisi lapisan tipis silikon amorf terhidrogenasi (a-Si:H) dengan menggunakan teknik VHF-PECVD. Proses deposisi dilakukan dengan variasi daya rf 6 sampai 12,5 watt pada tekanan ruang deposisi 300 mTorr serta variasi  daya rf 20 sampai 70 watt pada tekanan ruang  deposisi 100  mTorr. Laju deposisi dan fotokonduktivitas tertinggi, masing-masing 2,99 Ã…/det dan 1,13 x 10-4 S/cm, diperoleh pada daya rf 8 watt saat daya rf divariasi dari 6 sampai 12,5 watt. Laju deposisi tertinggi,  9,57  Ã…/det,  dan fotokonduktivitas tertinggi, 1,54 x  10-2 S/cm,  masing-masing diperoleh pada daya rf 40 dan 20 watt saat daya rf divariasi dari 20 sampai 70 watt. Berdasarkan analisis yang dilakukan pada  hasil-hasil  karakterisasi, penurunan  konduktivitas  lapisan a-Si:H diakibatkan oleh terbentuknya keadaan-keadaan cacat dalam lapisan seperti cacat ekor pita dan cacat celah pita.
Kata kunci: VHF-PECVD, laju deposisi, konduktivitas, keadaan cacat
Penulis: Usman, S. Amiruddin, Mursal, Sukirno, T. Winata, dan M. Barmawi
Kode Jurnal: jpfisikadd050004

Artikel Terkait :