Penentukan Indeks Bias Lapisan Tipis dengan menggunakan Ellipsometer
Abstrak: Penelitian amorphous
silicon film tipis yang pelapisnya dilakukan di atas bahan semi transparan dan
non transparan. Dengan menggunakan Ellipsometer menghasilkan pengukuran yang
sangat akurat, dan dengan menggunakan komputer program hasil percobaan diolah
serta dibandingkan antara pengukuran dilakukan sebelumnya.
Penulis: Satwiko S
Kode Jurnal: jpfisikadd090057
Artikel Terkait :
Jp Fisika dd 2009
- Penentuan Modulus Young Kawat Besi dengan Percobaan Regangan
- Peningkatan Aktivitas, Motivasi dan Hasil Belajar Peserta Didik dengan Metode Sets di Kelas IXE SMP Negeri 3 Purworejo, Jawa Tengah pada Konsep Energi dan Daya Listrik
- GIANT MAGNETORESONANCE EFFECT OF NiFe/Ag/ NiFe MULTILAYERS PREPARED WITH DC SPUTTERING TECHNIQUE ON Ag DEPOSITION TIME
- Penerapan Kecerdasan Majemuk untuk Meningkatkan Hasil Belajar Fisika Peserta Didik di SMAN 2 Magelang, Jawa Tengah
- Penerapan Strategi Pembelajaran Probex untuk Meningkatkan Motivasi dan Hasil Belajar Peserta Didik SMP Negeri 3 Purworejo, Jawa Tengah Tahun Pelajaran 2007/2008 pada Konsep Kalor
- Parametrisasi Fungsional Kerapatan-tenaga Fayans dalam Ruang Koordinat untuk Perhitungan Swakonsisten Keadaan Dasar Inti dengan Inti ZR90 Sebagai Acuan
- Analisis Spektral Campuran Linier untuk Deteksi Tutupan Lahan di Daerah Perkotaan menggunakan Data Satelit Landsat ETM+ (Studi Kasus Kota Banjarbaru dan Sekitarnya)
- Simulasi Perambatan Gelombang Georadar (GPR) pada Suatu Media Berlapis
- Pemanfaatan Citra Landsat ETM+ dan Sistem Informasi Geografis untuk Pendugaan Limpasan Permukaan di DAS Jene’berang Hulu Provinsi Sulawesi Selatan
- Pemodelan Sebaran Sistem Hidrotermal dan Identifikasi Jenis Batuannya dengan Metode CSAMT (Studi Kasus Gunungapi Ungaran)
- Estimasi Curah Hujan Kota Banjarbaru Kalimantan Selatan Menggunakan Metode Jaringan Syaraf Tiruan
- Metoda Ekstraksi Cair-Cair sebagai Alternatif untuk Pembersihan Lingkungan Perairan dari Limbah Cair Industri Kelapa Sawit
- Analisis Tingkat Kecepatan Korosi Besi dengan Menggunakan Sinar Gamma
- Prediksi Jangka Pendek Debit Aliran Irigasi Seluma dengan Menggunakan Jaringan Syaraf Tiruan
- Analisa Lapisan Keras (Bedrock) dengan Menggunakan Metode Seismik Refraksi
- Upaya Meningkatkan Hasil Belajar Mahasiswa Pada Matakuliah Fisika Modern Melalui Pendekatan Konstruktivisme Model Pembelajaran Kooperatif Tipe Jigsaw
- Studi Analisis Sifat Dielektrik Tanah dengan Variasi Porositas Pada Frekuensi Resonansi Rendah
- Fabrikasi dan Karakterisasi Sel Surya Organik Berbasis ITO/CuPc/PTCDI/Ag
- Karakterisasi Antena Mikrostrip dengan Metode FDTD dalam Substrat FR4 untuk Frekuensi Kerja 2,4 GHz
- TERMOMETER DENGAN KELUARAN SUARA BERBASIS MIKROKONTROLER ATMEGA8535 UNTUK MENGUKUR SUHU RUANG
- PERUMUSAN FUNGSI GREEN SISTEM OSILATOR HARMONIK DENGAN MENGGUNAKAN METODE INTEGRAL LINTASAN (PATH INTEGRAL)
- Pemetaan Lokasi Fishing Ground dan Status Pemanfaatan Perikanan di Perairan Selat Madura
- Estimasi Ukuran Bulir Mineral Magnetik pada Batuan Peridotit Berdasarkan Peluruhan Anhysteretic Remanent Magnetization (ARM)
- Perancangan Pengendalian Level Boiler dan Flow Bahan Bakar pada PLTU Bahan Bakar Sampah menggunakan Jaringan Syaraf Tiruan Backpropagation